SPI / AOI / AXI檢測設備
產品說明
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超大板處理能力
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支持 1200mm × 660.4mm(47.24"×26") 的電路板,覆蓋工業級超大尺寸PCB(如服務器主板、汽車電子)。
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最大承重 15kg,滿足高密度、多層板檢測需求。
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微米級缺陷檢測
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最小檢測能力:
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短路寬度:0.045mm(行業領先水平)
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引腳間距:0.3mm(兼容高密度IC)
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最小錫厚:0.0127mm(精準把控焊接質量)。
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高可靠性
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誤判率僅 500–1000 ppm(百萬分之一),顯著降低復檢成本。
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強大的軟硬件平臺
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八核 Intel Xeon 處理器 + Windows 10 Pro,確保復雜算法流暢運行。
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用戶界面簡潔,支持多級密碼保護,保障數據安全。
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快速測試開發
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支持 4 種主流 CAD 格式轉換(選配工具),縮短適配周期。
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標準開發時間 4小時–1.5天,加速產線部署。
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靈活編程選項
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支持離線測試開發,減少設備占用時間。
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全面兼容工業標準
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輸送高度 865–1025mm,無縫對接主流產線。
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通訊協議支持 SMEMA/HERMES,讀碼器兼容行業標準設備。
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復雜板卡適應性
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板厚范圍 0.5–12.7mm,翹曲容忍度 ±3.3mm,適應變形板卡。
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100% 壓合件測試(需 PSP2/PSP2.1),解決高難度多層板檢測痛點。
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超低輻射安全
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X光輻射 < 0.5μSv/hr(遠低于國際安全限值),保障操作員健康。
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板卡溫度耐受 40℃,適應高溫環境。
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工業級可靠性設計
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底部間隙 80mm,頂部多級分辨率適配(7.5–19μm),兼容多樣檢測需求。
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邊緣間隙僅 3mm,最大化檢測區域利用率。
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精準光學配置:頂部間隙按分辨率分級優化(如 50mm@19μm),平衡精度與兼容性。
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嚴苛環境適配:支持 200–415V 三相電源 + 552kPa 高壓氣源,滿足工業現場需求。
規格參數
系統 | V810i S2 XLL |
系統控制器 | 綜合控制器, 八核心Intel Xeon處理器 |
操作系統 | Windows 10 Pro (64 bit) |
測試開發環境 | |
用戶界面 | 采用微軟視窗的軟件解決方案與簡單的用戶界面和用戶級別的密碼保護 |
離線編程開發軟件 | 可選項離線測試 |
轉換工具 | 在 V810i 軟件和可選軟件中支持 4 種不同類型的 CAD,可用于將其他 CAD 數據轉換為 ViTrox 的格式 |
標準測試開發時間 | 4小時至1.5天以轉換原本的CAD 文件和開發應用程式 |
生產線整合 | |
輸送高度 | 865mm - 1025mm |
標準通訊輸送裝置 | SMEMA, HERMES |
讀碼器 | 兼容大多數行業標準的讀碼器 |
系統性能參數* | |
誤判率 | 500 - 1000ppm |
最小特征的檢測能力 | |
腳間距 1 | 0.3mm and 以上 |
短路寬度2 | 0.045mm |
最小錫厚 | 0.0127mm |
電路板檢測特性** | |
最大電路板尺寸 (L x W) | 1200.0mmx660.4mm (47.24"x26") |
最小電路板尺寸 (L x W) | 76.2mmx76.2mm (3" x 3" ) |
最大電路板可檢測的區域 | 1200.0mmx654.4mm (47.24"x25.7") |
最大電路板厚度 | 12.7mm (500 mils) |
最小電路板厚度 | 0.5mm (20 mils) |
電路板翹曲 | 下彎< 3.3mm; 上彎 < 3.3mm |
最大電路板重量 | 15kg |
電路板頂部間隙 |
50mm @ 19μm 解析度 31mm @ 15μm 解析度 13mm @ 11μm 解析度 31mm @ 10μm 解析度# 13mm @ 7.5μm 解析度# (從頂部表面計算起) |
電路板低部間隙 | 80mm |
電路板邊緣間/td> | 3mm |
100% 壓合件測試能力 | Yes (配以 PSP2 / PSP2.1 功能) |
電路板可承受的最高溫度 | 40℃ |
安全基本標準 | X光輻射劑量率低于0.5uSv/hr |
安裝規格 | |
電壓需求 | 200 – 240 VAC 3相; 380 – 415 VAC 3相 wye (+/- 5) (50Hz or 60Hz) |
空氣需求量 | 552 kPA (80psi) |
系統體積 (寬度 X 深度 X 高度) | 2695mmx2460mmx1980mm |
重量 | ~6700kgs |
規格可能會有所更改。
**注2:
1. 利用邊緣寬度處理電路板。切割過的電路板邊緣需要使用載具來處理。
2. 電路板的最大尺寸和重量含載具在內。
3. 使用載具可測試較小面積的電路板。
4. 隨著電路板的厚度,圖像結果將會受表面貼裝的規劃所影響。
5. 從電路板底部測量包括最大翹曲。